同步辐射测试(XAFS)
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项目简介
XAFS ( X-Ｒay Absorption Fine Structure，XAFS) ，即X射线吸收精细结构，也叫X射线吸收谱，是通过测量X射线吸收系数随X射线能量变化得到的曲线，合理地分析XAFS谱，能够获得关于材料的局域几何结构( 如原子的种类、数目以及所处的位置等) 以及电子结构信息，在物理、化学、生物、材料、环境等众多科学领域有着重要意义。
XAFS谱主要包括两部分：X射线吸收近边结构(XANES) 和扩展X射线吸收精细结构(EXAFS)，XANES可以得到吸收原子的电子结构，包括价态、对称性、轨道占据等信息；EXAFS可以得到吸收原子周围配位信息，包括配位原子种类、键长、配位数、无序度等。
样品要求
XAFS 测试粉末样品 400目，尽量100mg以上，块体或者薄膜长宽1cm左右。
常见问题
Q1、XAFS可以给出什么信息？
XAFS是一种利用同步辐射技术发展起来的结构分析方法。XAFS信号是由于吸收原子周|围的近程结构决定的，因而它提供的是小范围内原子簇结构的信息，包括电子结构与儿何结构。由于他与长程有序无关，因而它不像X射线衍射，必须用晶体做样品，他可以使用结晶体，也可以是非结晶体，可以使用固体，也可以使用液体，甚至是气体，他可以用单一的物相，也可以使混合物等等，这一可测试样品的广泛性决定了他适用范围特别广大。
Q2、XANES 与 EXAFS 有什么区别？
XANES对应的X射线波长在-20eV到30eV范围内，而EXAFS 对应的X射线波长在30到1000eV范围内。
